走査型プローブ顕微鏡
| 機関・施設 | 琉球大学 |
|---|---|
| 利用タイプ | 利用可能機器・設備 |
| メーカー | 日立ハイテクサイエンス |
| 型番 | E-SWEEP |
| 仕様 |
測定範囲：面内10 μm、高さ1.5 μm 観察範囲：0.1 nm～100 μm |
| 概要 | 微小な針で試料をなぞることで、表面の形状や性質を分子レベルで観察する装置です。機械物性、電磁気物性計測などにも応用可能です。特にナノ材料の表面や物性の評価に利用できます。 |
| 詳細ページ・問い合わせ先 |
https://rfc.lab.u-ryukyu.ac.jp/RFC/contact/ |
| 写真 |